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理學新一代波長色散型X射線熒光光譜儀ZSX Primus IIInext，采用理學獨特的光路結(jié)構(gòu)，使其成為質(zhì)量和生產(chǎn)控制等應用中通用XRF的理想選擇。

理學ZSX系列中最新的儀器，ZSX Primus沿襲了及時提供精確結(jié)果的傳統(tǒng)，無與倫比的可靠性，靈活性和簡便性適合當今實驗室的各種挑戰(zhàn)

理學掃描型波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus IV采用獨特的上照射設計，完美契合粉末樣品測試需求，可以快速定量分析從Be（鈹）到U（鈾）的各種類型樣品的成分分析。

Supermini200擁有改良的軟件功能和更為小巧的機身。作為臺式順序WDXRF，可以分析幾乎任何材料中從氧（O）到鈾（U）的元素。理學的Supermini200提供了低成本，高分辨率和低檢出限。

理學Simultix 15波長色散X射線熒光光譜儀，作為一款功能強大的元素分析分析工具，廣泛用于高吞吐量和精度的行業(yè)（例如鋼鐵和水泥）的過程控制和品質(zhì)管控。

全反射 X 射線熒光光譜儀表面污染計量測量離散點的元素污染或使用完整的晶圓圖

Rigaku 獨特的 ZSX Primus 400 連續(xù)波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 光譜儀專為處理非常大或重的樣品而設計。

日本理學全反射 X 射線熒光光譜儀TXRF-V310通過 VPD-TXRF 進行晶圓表面污染測量超痕量元素表面污染的測量

理學波長色散型X射線熒光光譜儀ZSX Primus IVi，采用下照式光路結(jié)構(gòu)，能夠?qū)σ后w、合金和電鍍金屬等樣品進行無損分析。ZSX Primus IVi為分析最復雜的樣品提供了卓越的性能和靈活性。

波長色散X射線熒光光譜儀WDA-3650用于薄膜評估的X射線熒光分析儀同時對各種薄膜的薄膜厚度和成分進行無損、非接觸式分析